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  • 示波器 (DSO)

    在下方可查找 TI 的示波器集成电路和参考设计(配有原理图、测试数据和设计文件),这些资源: •具备对高性能示波器至关重要的高性能高速千兆采样 ADC、低相位噪声时钟合成器及高速放大器的性能 •展示了在与高速数字接口(例如 LVDS 和 JESD204B)连接时需要考虑的设计限制 •提供系统功率解决方案(包括直流/直流转换器和低噪声 LDO),以便实现最高系统 SNR

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  • 数字万用表 (DMM)

    在下方可查找 TI 的数字万用表集成电路和参考设计(配有原理图、测试数据和设计文件),这些资源: •可帮助您设计低成本、低功耗、高效节能的高性能数字万用表产品 •提供使用外部数据转换器(与无线 MCU 结合使用,以实现更高的测量性能)的设计示例 •演示了可提供高效解决方案,从而延长电池使用时间的电源和电池管理器件

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  • 数据采集 (DAQ)

    在下方可查找数据采集 (DAQ) 系统的集成电路和参考设计(配有原理图、测试数据和设计文件),这些资源可解决以下方面的设计难题: •最大限度提高系统分辨率和带宽,同时最大限度减少 ADC、放大器和时钟的噪声和功耗 •解决隔离式数据采集系统设计中的典型性能限制难题 •通过低噪声 LDO、直流/直流转换器和低功率射频器件供电并连接到整个系统

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  • 电池测试设备

    在下方可查找高密度电池测试设备的集成电路和参考设计(配有原理图、测试数据和设计文件),这些资源可解决以下方面的问题: •使用具有集成 DAC、ADC 和 Rsense 电阻器的 TI 电池充电器和量表,在电池测试期间创建、监视和控制精确的充放电 I/V 曲线。 •完整的系统电源设计,包括 FPGA 的电源管理 •各种极高电源管理解决方案,可满足充电过程中对电源的高需求。

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  • 无线通信测试设备

    在下方可查找无线通信测试设备 (WCTE) 的集成电路和参考设计(配有原理图、测试数据和设计文件),这些资源: • 展示了使用 TI 高速直接射频采样数据转换器和放大器的设计方法 • 重点突出使用超低抖动可编程时钟发生器为用于单通道和多通道 WCTE 应用的高速数据转换器计时 • 展示了如何使用各种高性能放大器和可变增益放大器通过足够的增益将平衡输入转换为差动输出

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  • 矢量信号收发器 (VST)

    在下方可查找 TI 的矢量信号收发器集成电路和参考设计(配有原理图、测试数据和设计文件),这些资源: • 使用高速射频采样数据转换器实现宽带宽、宽动态范围系统 • 展示了如何使用各种高性能放大器和可变增益放大器通过足够的增益将平衡输入转换为差动输出 • 重点突出如何使用超低抖动可编程时钟发生器为用于单通道和多通道应用的高速数据转换器计时

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  • 信号发生器(矢量信号发生器 - VSG)

    信号/波形发生器可以以重复或触发的方式产生正弦、方形、三角和噪声信号,以帮助对电子器件进行设计、测试和故障排除。上面显示的系统方框图包括板上信号合成和控制,它们分别通过 DSP 和微处理器来完成。通用接口总线 (GPIB) 和 RS-232 端口是信号发生器的典型通信选项,但也可以通过局域网 (LAN)、通用串行总线 (USB) 和外设组件互连 (PCI) 获得更高速度的接口选项。接口信号管理和其它简单控制功能通常由微处理器或简单的嵌入式处理器来驱动,而密集信号合成和波形生成则由数字信号处理器 (DSP)(或者现场可编程门阵列 (FPGA) 或自定义专用集成电路 (ASIC))来驱动。 信号链:当 DSP 合成高速数字信号时,数模转换器 (DAC) 必须与数字信号的带宽相匹配,同时降低信号转换期间的噪声。虽然精密 DAC 可以产生高信噪比 (SNR)、有效位数 (ENOB) 和快速建立时间,但是高速 DAC 却能提供更快的更新速率、更宽的带宽和更高的输出电流。高性能、低抖动(或低相位噪声)时钟将馈送至 DAC 以实现精确采样(例如,TI 的 CDCM7005)。输出放大器必须支持由 DAC 提供的信号的带宽、显示低失真并提供快速建立时间以维持信号完整性,如 TI 的 OPA8xx 和 THS3xx 系列放大器。

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  • 信号分析器(矢量信号分析器 - VSA)

    在下方可查找 TI 的矢量信号分析器集成电路和参考设计(配有原理图、测试数据和设计文件),这些资源: • 展示了如何通过 TI 的高分辨率、宽带宽 ADC 实现宽动态范围系统 • 提供了信号分析器所需的高性能、低功耗、 集成频率生成功能 • 展示了如何使用 TI 的最新锁相环 (PLL) 合成器(能够生成相位噪声性能行业领先的宽频率范围)

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  • 磅秤和重量 德州仪器 (TI) 秤重天平解决方案

    秤重天平/桥传感器: 电子秤以某些方式或形式存在于许多工业应用中,而在当今的食品工业中更是随处可见。电子秤制造商偶尔会开发专用 ASIC 以定制模拟前端的功能,以便获得最高精确性和稳定性。但是,某些使用标准产品的设计方法可提供高达 23 位无噪声码分辨率,这能够与定制的解决方案功能相媲美。 电子秤设计所面临的主要挑战是不仅要对多个负荷元进行采样,而且要提供极低的输入参考噪声 (RTI)。ADS1230、ADS1232 和 ADS1234 可以提供此应用所需的低输入参考噪声。另一个重要因素是模拟电路在失调漂移和增益、超时和温度方面的长期稳定性。由于现实的传感器具有跨距和偏移误差,因此温度会不断地变化。此外,许多电桥压力传感器都具有因外力作用而形成的非线性输出。必须确保放大的输入信号(单端或差动)的精确度在若干年内不会降低。自动置零放大器,例如 OPA335 和 INA326 仪表放大器,可以通过实现 0.05μV/°C (OPA335) 和 0.4μV/°C (INA326) 的失调漂移来轻松满足这些严苛的要求。

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